Automated enhancement and detection of stripe defects in large circular weft knitted fabrics

Piscataway, NJ / IEEE (2016) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

21th IEEE Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : September 6 - 9, 2016, Berlin
Seite(n): 4 Seiten

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Kopaczka, Marcin
Ham, Hanry
Simonis, Kristina
Kolk, Raphael
Merhof, Dorit

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