In-process fault detection for textile fabric production : Onloom Imaging

Bellingham, Wash / SPIE (2011) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Optical measurement systems for industrial inspection VII : 23 - 26 May 2011, Munich, Germany ; [part of SPIE optical metrology] / sponsored and publ. by SPIE. Peter H. Lehmann ..., ed.
Seite(n): 808240

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Neumann, Florian
Holtermann, Timm
Schneider, Dorian
Kulczycki, Ashley
Gries, Thomas

Weitere Autorinnen und Autoren

Aach, Til

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